AWS X-Ray 推出自動最佳化錯誤偵測的自適應抽樣

張貼日期: 2025年9月25日

AWS X-Ray 是一項服務，可透過提供要求追蹤功能來協助開發人員分析和除錯分散式應用程式，現在提供自適應抽樣，以解決 DevOps 團隊、網站可靠性工程 (SRE) 和應用程式開發人員的常見挑戰。這些客戶經常面臨困難的平衡：設定抽樣率過低的風險可能會在資安事端期間遺失重要追蹤，但若是將其設為過高，則會增加正常運作期間的可觀測性成本。            
如今，使用自適應抽樣功能，您可以在使用者定義的限制內自動調整抽樣率，以確保您在需要時精確擷取最重要的追蹤。這有助於開發團隊透過針對根本原因分析提供全面的追蹤資料，同時在正常運作期間維持具成本效益的抽樣率，協助開發團隊縮短資安事端期間的平均解決時間 (MTTR)。自適應取樣支援兩種方法，抽樣提升 (Sampling Boost) 和異常跨度擷取 (Anomaly Span Capture)。這兩者可以獨立應用，也可以結合使用。客戶可以使用「抽樣提升」在偵測到異常時暫時提高抽樣率，以擷取完整的追蹤，以及使用「異常跨度擷取」，確保即使沒有完整追蹤的抽樣，也可以確保始終擷取異常相關的跨度。
自適應抽樣目前已在所有提供 AWS X-Ray 的商業區域中提供。如需詳細資訊，請參閱 X-Ray 文件以及 CloudWatch 定價頁面以了解 X-ray 定價詳細資料。