AWS X-Ray presenta el muestreo adaptativo para la detección automática y optimizada de errores
AWS X-Ray, un servicio que ayuda a los desarrolladores a analizar y depurar aplicaciones distribuidas al proporcionar capacidades de rastreo de solicitudes, ahora ofrece un muestreo adaptativo para resolver un desafío común para los equipos de DevOps, los ingenieros de confiabilidad del sitio (SRE) y los desarrolladores de aplicaciones. Estos clientes suelen enfrentarse a una difícil disyuntiva: si se establecen tasas de muestreo demasiado bajas, se corre el riesgo de perder los rastros críticos durante los incidentes, mientras que si se fijan demasiado altas se incrementan innecesariamente los costos de observabilidad durante las operaciones normales.
Hoy en día, con el muestreo adaptativo, puede ajustar automáticamente las frecuencias de muestreo dentro de los límites definidos por el usuario para asegurarse de capturar los rastros más importantes con precisión cuando los necesita. Esto ayuda a los equipos de desarrollo a reducir el tiempo medio de resolución (MTTR) durante los incidentes al proporcionar datos de seguimiento completos para el análisis de la causa raíz y, al mismo tiempo, mantener tasas de muestreo rentables durante las operaciones normales. El muestreo adaptativo admite dos enfoques: impulso de muestreo (Sampling Boost) y captura del intervalo de anomalías (Anomaly Span Capture). Estos se pueden aplicar de forma independiente o se pueden combinar entre sí. Los clientes pueden usar Sampling Boost para aumentar temporalmente las frecuencias de muestreo cuando se detectan anomalías para capturar trazas completas y Anomaly Span Capture para garantizar que siempre se capturen los intervalos relacionados con las anomalías, incluso cuando no se muestrea la traza completa.
El muestreo adaptativo está disponible actualmente en todas las regiones comerciales en las que se ofrece AWS X-Ray. Para obtener más información, consulte la documentación de X-Ray y la página de precios de CloudWatch para obtener información detallada sobre los precios de X-Ray.