Publié le: Sep 8, 2020
Le format de métriques intégrées d'Amazon CloudWatch vous permet d'absorber de complexes données d'application de cardinalité élevée sous la forme de journaux et de facilement générer des métriques exploitables les concernant. Il a toujours été difficile de générer des métriques personnalisées exploitables à partir de ressources éphémères, telles que les fonctions Lambda et les conteneurs. En envoyant vos journaux dans le format de métriques intégrées, vous pouvez facilement créer des métriques personnalisées sans avoir à manipuler de code. Vous bénéficiez par là même de puissantes fonctionnalités d'analyse pour vos données de journal.
Utiliser le format de métriques intégrées offre plusieurs avantages. Vous pouvez intégrer des métriques personnalisées avec des données d'événement de journal détaillées. CloudWatch extraira automatiquement les métriques personnalisées de sorte que vous puissiez les visualiser et créer des alertes pour faciliter la détection d'incidents en temps réel. En outre, les événements de journal détaillés associés aux métriques extraites peuvent être interrogés à l'aide de CloudWatch Logs Insights afin d'obtenir des informations précises sur les causes racines d'événements opérationnels.
Vous pouvez générer des événements de journal au format de métrique intégrée à l'aide des bibliothèques client en open source disponibles sur GitHub. Vous pouvez également les créer conformément à une spécification définie. Ces bibliothèques client en open source incluent désormais Java ainsi que Node.js et Python. Une fois générés, ces événements sont envoyés à CloudWatch à l'aide des bibliothèques client, de l'agent CloudWatch ou en appelant directement l'API PutLogEvents.